SK EN 62047-18:2015

Status: Published
Gjuha: English
Faqe: 18
Publikuar: 2015-06-24
Regjistri Kombëtar:
Botim:

Standardet ndërkombëtare që kanë lidhje

This standard is identical to:
EN 62047-18:2013
CLC/SR 47F

Çmim: 22 €

Titulli Shqip

Pajisjet gjysëmpërcuese-Pajisjet mikroelektromekanike-Pjesa 18: Metodat e provës së përkuljes të materialeve në formë fletësh të holla

Titulli Anglisht

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 18: Bend testing methods of thin film materials

Scope Shqip

Asnjë informacion i shtuar.

Scope Anglisht

IEC 62047-18:2013 specifies the method for bend testing of thin film materials with a length and width under 1 mm and a thickness in the range between 0,1 micrometre and 10 micrometre. This International Standard specifies the bend testing and test piece shape for micro-sized smooth cantilever type test pieces, which enables a guarantee of accuracy corresponding to the special features.

Komitetet Teknike

KT-5 - KT. për Elektroteknikë

ICS

31.080.99 - Pajisje të tjera gjysmëpërçuese

Direktivë

Asnjë informacion i shtuar.

Veprim Kombëtar

Asnjë informacion i shtuar.

Numri Standardit

Gjuha

Status

Publikuar

Faqe

Çmim

Blej

SK EN 62047-11:2015

Published

2015-06-24

26 €

Pajisje gjysëmpërçuese-Pajisje mikroelektromekanike-Pjesa 11: Metoda e proves për koeficientët e përhapjes termale lineare të materialeve vetëmbajtëse për sistemet mikroelektromekanike

SK EN 62047-19:2015

Published

2015-06-24

32 €

Pajisjet gjysëmpërcuese-Pajisjet mikroelektromekanike-Pjesa 19: Busullat elektronike