Titulli Shqip
Pajisje gjysëmpërçuese-Pajisje mikroelektromekanike-Pjesa 11: Metoda e proves për koeficientët e përhapjes termale lineare të materialeve vetëmbajtëse për sistemet mikroelektromekanike
Titulli Anglisht
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 11: Test method for coefficients of linear thermal expansion of free-standing materials for micro-electromechanical systems
Scope Shqip
Asnjë informacion i shtuar.
Scope Anglisht
IEC 62047-11:2013 specifies the test method to measure the linear thermal expansion coefficients (CLTE) of thin free-standing solid (metallic, ceramic, polymeric, etc.) micro-electro-mechanical system (MEMS) materials with length between 0,1 mm and 1 mm and width between 10 micrometre and 1 mm and thickness between 0,1 micrometre and 1 mm, which are main structural materials used for MEMS, micromachines and others. This test method is applicable for the CLTE measurement in the temperature range from room temperature to 30 % of a material''s melting temperature.
Komitetet Teknike
ICS
Direktivë
Asnjë informacion i shtuar.Veprim Kombëtar
Asnjë informacion i shtuar.Numri Standardit
Gjuha
Status
Publikuar
Faqe
Çmim
Blej
Published
2015-06-24
18
22 €
Pajisjet gjysëmpërcuese-Pajisjet mikroelektromekanike-Pjesa 18: Metodat e provës së përkuljes të materialeve në formë fletësh të holla
Published
2015-06-24
37
32 €
Pajisjet gjysëmpërcuese-Pajisjet mikroelektromekanike-Pjesa 19: Busullat elektronike